Spectrométrie de Fluorescence X
Spectrométrie de Fluorescence X (µ-XRF)
Le spectromètre par fluorescence des rayons X est un système d’analyse unique qui permet de réaliser des cartographies élémentaires (de l’aluminium à l’uranium) à très haute résolution (< 100 µm) sur des surfaces allant jusqu’à 4,5 x 100 cm. Les limites de détection sont variables selon la matrice échantillon et l’élément chimique concerné (≥10 ppm).
Ce spectromètre permet d’effectuer des analyses sans sous-échantillonnage, non-destructives et sans contact, à des résolutions spatiales inaccessibles par échantillonnage manuel.
Équipements
- 1 Spectromètre de micro-fluorescence X (Artax, Bruker)
Applications
- Reconstruction de la variabilité élémentaire à haute résolution spatiale dans les archives sédimentaires (marines ou lacustres).
- Acquisition de cartographies élémentaires 2D sans sous-échantillonnage de carottes de sédiments (marin, lacustre), de spéléothèmes, de tranche de bois ou tout autre matériau solide.
Lien avec l’OSU Ecce Terra: plateforme ALYSES
Contact
- Hugues Boucher (Resp.)
Localisation : Campus Bondy